国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
数字化用户
2019,
Vol.
25
Issue
(16) :
188.
微电子器件的可靠性分析
张宇
数字化用户
2019,
Vol.
25
Issue
(16) :
188.
引用
认领
✕
来源:
NETL
NSTL
万方数据
微电子器件的可靠性分析
张宇
1
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
作者信息
1.
161000 齐齐哈尔工程学院 黑龙江 齐齐哈尔
折叠
摘要
随着当前电子信息技术的发展,越来越多的微电子器件应用于日常生活中,电子设备的大量使用,也对微电子器件的可靠性提出了越来越高的要求.微电子器件的可靠性直接关系到电子设备应用功能的发挥,本文针对微电子器件的可靠性优化工作进行研究,通过分析当前影响微电子器件的可能因素,并在当前科技水平下,有针对性的提出了一些提升微电子器件可靠性的办法,以期实现可靠性的优化.
关键词
电子技术
/
微电子
/
可靠性
引用本文
复制引用
出版年
2019
数字化用户
数字化用户
ISSN:
引用
认领
参考文献量
3
段落导航
相关论文
摘要
关键词
引用本文
出版年
参考文献
引证文献
同作者其他文献
同项目成果
同科学数据成果