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电子元器件失效分析及技术发展

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随着科学电子技术的高速发展,集成电路的应用领域不断更新,为了能够有效地提升集成电路整体运行状态的可靠性,需要严格做好日常电子元器件失效分析工作.本文主要针对当前电子元器件失效的常见因素进行分析工作,从失效问题的源头排查、样品制备和保存、电性分析与物理分析等角度考虑,进一步针对电子元器件失效分析以及技术发展进行研究,同时提出一些改进策略,希望能够为提升集成电路整体的可靠性提供参考.

余青平、梁嘉宝、陈文昌

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电子元器件 失效分析 技术

2019

数字化用户

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ISSN:
年,卷(期):2019.(18)
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