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缺陷固态硬盘的电子数据提取方法探讨
缺陷固态硬盘的电子数据提取方法探讨
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NETL
NSTL
万方数据
中文摘要:
针对电子数据取证实践中遇到的接口破坏、电路破坏、元件损坏、异常发热、突发坏块、固件损坏等受损固态硬盘的电子数据取证问题,给出了具体解决方案.对这些技术方案进行了探讨分析,并在实际案例中进行了应用.
外文标题:
Exploration of electronic data extraction methods for damaged solid-state Disks
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作者:
张佳强、董超、许超明、朱星海
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作者单位:
641000 数据恢复四川省重点实验室 四川 内江
关键词:
固态硬盘
数据恢复
芯片提取
电子数据取证
出版年:
2019
数字化用户
数字化用户
ISSN:
年,卷(期):
2019.
25
(36)
参考文献量
1