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分析芯片封装中铜线焊接性能
分析芯片封装中铜线焊接性能
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中文摘要:
基于对芯片封装中铜线焊接性能的探讨研究,本文首先从铜线性能分析入手,再以此为基础,从氧化与保护、铜线强度以及焊接界面性能三方面,展开对铜线性能的分析,希望能够为有关人士提供帮助.
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作者:
程健、李珊珊
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作者单位:
300380 飞思卡尔半导体(中国)有限公司 天津
300380 天津职业技术师范大学 天津
关键词:
芯片封装
铜线焊接
焊接性能
出版年:
2019
数字化用户
数字化用户
ISSN:
年,卷(期):
2019.
25
(38)
参考文献量
2