国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
数字化用户
2019,
Vol.
25
Issue
(51) :
269.
TFT-LCD制造中的阵列缺陷分析和修复的探讨
王红平
陆旭
数字化用户
2019,
Vol.
25
Issue
(51) :
269.
引用
认领
✕
来源:
NETL
NSTL
万方数据
TFT-LCD制造中的阵列缺陷分析和修复的探讨
王红平
1
陆旭
1
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
作者信息
1.
210033 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 江苏 南京
折叠
摘要
在液晶显示制造过程中,为全面优化产品良率,需高度重视阵列缺陷检测以及修复工艺的重要性,有效融合了激光处理、缺陷检测、电路等效分析、修复技术以及薄膜特性分析等多种综合工艺.基于此,文章将第五代TFT-LCD生产工艺作为主要研究对象,重点阐述电性缺陷处理与修复技术,希望有所帮助.
关键词
TFT-LCD制造
/
阵列缺陷分析
/
修复
引用本文
复制引用
出版年
2019
数字化用户
数字化用户
ISSN:
引用
认领
参考文献量
2
段落导航
相关论文
摘要
关键词
引用本文
出版年
参考文献
引证文献
同作者其他文献
同项目成果
同科学数据成果