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通信技术
2007,
Vol.
40
Issue
(10) :
62-64.
ATE功能测试码生成方法
A Way to Generate Function_Test_Code of ATE
尤坤
王慧
通信技术
2007,
Vol.
40
Issue
(10) :
62-64.
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来源:
NETL
NSTL
维普
万方数据
ATE功能测试码生成方法
A Way to Generate Function_Test_Code of ATE
尤坤
1
王慧
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作者信息
1.
成都三零嘉微电子有限公司,四川,成都,610041
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摘要
文中简要介绍了芯片测试,对ATE功能测试码生成给出了一般性原则,同时介绍了一种针对数字电路的简易、经济的适合于任意ATE功能测试码真值表生成方法.
关键词
芯片测试
/
功能测试ATE
/
ATE功能测试码
/
端口真值表
引用本文
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出版年
2007
通信技术
中国电子科技集团公司第三十研究所
通信技术
北大核心
影响因子:
0.518
ISSN:
1002-0802
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参考文献量
2
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