通信技术2007,Vol.40Issue(10) :62-64.

ATE功能测试码生成方法

A Way to Generate Function_Test_Code of ATE

尤坤 王慧
通信技术2007,Vol.40Issue(10) :62-64.

ATE功能测试码生成方法

A Way to Generate Function_Test_Code of ATE

尤坤 1王慧1
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  • 1. 成都三零嘉微电子有限公司,四川,成都,610041
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摘要

文中简要介绍了芯片测试,对ATE功能测试码生成给出了一般性原则,同时介绍了一种针对数字电路的简易、经济的适合于任意ATE功能测试码真值表生成方法.

关键词

芯片测试/功能测试ATE/ATE功能测试码/端口真值表

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出版年

2007
通信技术
中国电子科技集团公司第三十研究所

通信技术

北大核心
影响因子:0.518
ISSN:1002-0802
参考文献量2
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