P波段GaN微波功率器件射频加速寿命试验

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中文摘要：氮化镓(GaN)微波功率器件广泛应用于民用雷达及通信领域，其长期工作可靠性对整机设备性能有着极其重要的影响。在 150℃管壳温度的条件下对千瓦级P波段GaN微波功率器件进行加速寿命试验，基于Arrhenius模型对加速寿命试验结果进行计算和分析，得出该微波功率器件在 85℃管壳温度工作条件下的平均失效时间优于2。14×106 h，其工作寿命可以满足射频整机设备应用的要求。

作者：

董四华、高永辉、银军、赵景波、郝海飞

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作者单位：

中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄 050051

关键词：

峰值结温可靠性加速寿命试验平均失效时间 P波段

基金：

"叶企孙"科学基金

项目编号：

U2241220

出版年：

2024

通讯世界

中国科技信息研究所（ISTIC）,美国国际数据集团（IDG）

通讯世界

影响因子：0.757

ISSN：1006-4222

年,卷(期)：2024.31(7)

参考文献量5