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微电路内部气氛含量分析与控制
微电路内部气氛含量分析与控制
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中文摘要:
微电路内部水汽含量是影响器件可靠性的主要因素,水汽的控制包括粘接材料选择、清洗、密封前预烘烤、气密性焊接,等等.文章分析了微电路内部气氛的组成及来源,并根据实际案例,提出了与热应力和机械应力相关的间隙性漏气或单向漏气原理及其解决措施;给出了计算器件漏率的数学模型和内部气氛含量控制技术.
外文标题:
Analysis and Control of Vapor Content in Microcircuits
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作者:
欧昌银、李茂松、陈鹏、赵光辉、胡琼
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作者单位:
中国电子科技集团公司,第二十四研究所,重庆,400060
关键词:
微电路
水汽含量
气密性
封装
出版年:
2005
微电子学
四川固体电路研究所
微电子学
CSCD
北大核心
影响因子:
0.274
ISSN:
1004-3365
年,卷(期):
2005.
35
(2)
被引量
10
参考文献量
4