现代计算机(普及版)2015,Issue(1) :31-34.DOI:10.3969/j.issn.1007-1423.2015.02.008

针对嵌入式设备的自动化测试框架研究

Research on the Automated Testing Platform for Embedded Devices

王士峰 王义忠
现代计算机(普及版)2015,Issue(1) :31-34.DOI:10.3969/j.issn.1007-1423.2015.02.008

针对嵌入式设备的自动化测试框架研究

Research on the Automated Testing Platform for Embedded Devices

王士峰 1王义忠1
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作者信息

  • 1. 四川大学计算机学院,成都 610065
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摘要

简要介绍当前嵌入式行业,在硬件测试上的一些概念和基本测试流程,并重点关注易用性、可扩展性和通用性。通过对自动化测试技术的研究,并针对嵌入式领域的特点提出一个基于抽象层的测试平台,并探讨该测试平台的前景。为实现嵌入式设备的自动化测试提出一种客观可行的方法。

Abstract

Briefly describes the current embedded industry, the hardware test and some of the concepts and basic testing processes, with a focus on ease of use, scalability and versatility. Through the study of automated testing technology and the characteristics of embedded field test platform proposed based abstraction layer , and explores the prospects of the test platform. To automate the testing of embedded devices present a feasible objective method.

关键词

测试框架/自动化测试/嵌入式系统

Key words

Testing Framework/Automated Testing/Embedded System

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出版年

2015
现代计算机(普及版)
中山大学

现代计算机(普及版)

影响因子:0.202
ISSN:1007-1423
被引量1
参考文献量5
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