国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法标准解读
电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法标准解读
Interpretation of Standard for Test Method for Cell Defects in Crystalline Silicon Photovoltaic Modules by Electroluminescence (EL) Imaging
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
万方数据
维普
中文摘要:
对空间分辨率测试方法、分辨率等级确认、分辨率标准测试校准板确认、EL缺陷分类等标准主要内容进行介绍,重点分析了空间分辨率确定方法及EL缺陷类型分类,并对标准的优化方向提出建议和展望.
收起全部
展开查看外文信息
作者:
闫萍、王赶强
展开 >
作者单位:
天合光能股份有限公司
北京赛西科技发展有限责任公司
关键词:
晶体硅光伏组件
空间分辨率的等级划分
空间分辨率测试方法
EL分辨率测试板
缺陷类型
出版年:
2020
信息技术与标准化
中国电子技术标准化研究所
信息技术与标准化
影响因子:
0.219
ISSN:
1671-539X
年,卷(期):
2020.
(9)
被引量
3