摘要
科技的快速发展和进步,对于地质样品分析技术起到了很大的促进作用,但由于地质样品有着不同的地质条件和不同的地质构造要素,所以在地质样品分析过程当中,有关地质分析工作人员,不但要具备较强的地质样品分析理论知识,同时还必须要具备较强的实践经验,这样才能根据地质样品实际科学的选择相应的分析技术,提高地质样品分析效率与质量.基于此,下文将地质样品中银、锡元素分析作为对象,运用地质样品分析专用的AES-7200型发射光谱仪进行分析研究,缓冲剂选择焦硫酸钾、氟化钠、三氧化二铝和碳粉的混合物,锗作为内标元素,通过交流电弧发射光谱法,对地质样品当中的银、锡开展分析测定工作,使光栅摄谱仪的相板记录方式与洗相议谱、测光等操作环节被取代,工作效率大幅增强.
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