国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
直接压片X-射线荧光光谱法在预脱硅固体分析中的应用
直接压片X-射线荧光光谱法在预脱硅固体分析中的应用
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域，可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
万方数据
维普
中文摘要：
对采用直接压片X射线荧光光谱法测定氧化铝生产中预脱硅固体中各元素含量进行了研究。经过长期稳定性试验、和准确度试验。得出可以用于控制分析。
收起全部
展开查看外文信息
作者：
陈烈亭
展开 >
作者单位：
中铝遵义氧化铝有限公司化验室,贵州遵义563135
关键词：
X-射线荧光光谱直接压片预脱硅固体元素分析
出版年：
2012
中国包装科技博览
中国包装总公司
中国包装科技博览
ISSN：
1009-914X
年,卷(期)：
2012.
(5)
参考文献量
2
NETL
NSTL
万方数据
维普
