中国包装科技博览2012，Issue(5) ：220-221.

直接压片X-射线荧光光谱法在预脱硅固体分析中的应用

陈烈亭
中国包装科技博览2012，Issue(5) ：220-221.
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直接压片X-射线荧光光谱法在预脱硅固体分析中的应用

陈烈亭1
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  • 1. 中铝遵义氧化铝有限公司化验室,贵州遵义563135
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摘要

对采用直接压片X射线荧光光谱法测定氧化铝生产中预脱硅固体中各元素含量进行了研究。经过长期稳定性试验、和准确度试验。得出可以用于控制分析。

关键词

X-射线荧光光谱直接压片预脱硅固体元素分析

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出版年

2012
中国包装科技博览
中国包装总公司

中国包装科技博览

ISSN：1009-914X
参考文献量2
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