中国包装科技博览2012，Issue(14) ：252-252.

地籍图根控制测量综述

王伟鑫 杨爱武
中国包装科技博览2012，Issue(14) ：252-252.
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地籍图根控制测量综述

王伟鑫 1杨爱武1
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作者信息

  • 1. 沈阳沈北勘察测绘有限责任公司,辽宁沈阳
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摘要

从地籍工作的实际出发，简要叙述了地籍图根控制测量的全过程，总结了平差过程中出现的问题所采用的解决方法。

关键词

地籍图根控制/平差

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出版年

2012
中国包装科技博览
中国包装总公司

中国包装科技博览

ISSN：1009-914X
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