摘要
边界扫描测试技术是目前一种主流的可测性设计技术，它以特有的结构和检测方法克服了复杂数字电路板测试的技术障碍，能大大提高数字电路的可测试性。本文在深人研究IEEE1149．1边界扫描标准的基础上，根据边界扫描标准定义的测试结构对数字系统的测试方法进行研究，设计出符合IEEE1149．1标准的边界扫描测试系统。主要研究内容如下：详细分析IEEE1149．1标准中定义的测试结构；基于IEEE1149．1标准，提出数字系统边界扫描控制器的设计方案并实现其硬件设计，包括边界扫描控制模块等，并编写上位机软件；最后对数字系统边界扫描测试中的测试方法进行研究。该系统具有极大的应用前景，可以广泛应用于大规模数字集成电路的测试。
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