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CT系统参数标定及成像误差分析

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CT(Computed Tomography)可以在不破坏样品的情况下,利用样品对射线能量的吸收特性对生物组织和工程材料的样品进行断层成像,由此获取样品内部的结构信息.一种典型的二维CT系统,平行入射的X射线垂直于探测器平面,每个探测器单元看成一个接收点,且等距排列.X射线的发射器和探测器相对位置固定不变,整个发射-接收系统绕某固定的旋转中心逆时针旋转180次.对每一个X射线方向,在具有512个等距单元的探测器上测量经位置固定不动的二维待检测介质吸收衰减后的射线能量,并经过增益等处理后得到180组接收信息.

邓尧声

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西北工业大学

CT 参数标定 成像误差

2019

中国高新区
中国高新技术产业开发区协会,科技部火炬高技术产业开发中心

中国高新区

影响因子:0.023
ISSN:1671-4113
年,卷(期):2019.(4)
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