芯片短路失效分析注意点
Point for Attention in Chip Short Circuit Failure Analysis
杨利华1
作者信息
- 1. 北京中电华大电子设计有限责任公司,射频识别芯片检测技术北京市重点实验室
- 折叠
摘要
对芯片内部短路失效,可以使用EMMI和OBIRCH测试进行定位,但又不能完全采用常规的失效分析方法,本文就芯片内部短路失效注意点进行详细剖析.
Abstract
EMMI and OBRICH testing can be used to locate internal short circuit failures in chips,but conventional failure analysis methods cannot be fully used.This article provides a detailed analysis of the key points for chip short circuit failure analysis.
关键词
短路失效/EMMI和OBIRCH/注意点Key words
short circuit failure/EMMI and OBIRCH/attention points引用本文复制引用
出版年
2024
NETL
NSTL
万方数据