国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
中国集成电路
2024,
Vol.
33
Issue
(12) :
86-89.
自动化测试机开短路测试系统搭建和应用
蔡晓峰
余凯
陆逸敏
徐秋雨
中国集成电路
2024,
Vol.
33
Issue
(12) :
86-89.
引用
认领
✕
来源:
NETL
NSTL
万方数据
自动化测试机开短路测试系统搭建和应用
蔡晓峰
1
余凯
1
陆逸敏
1
徐秋雨
1
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
作者信息
1.
宏茂微电子(上海)有限公司
折叠
摘要
随着半导体行业的发展,自动化测试机中(ATE)的开短路(Open/Short)测试系统在传统测试生产中扮演着越来越关键的角色.本文概述了集成电路自动测试机的基本概念和核心功能,并详细介绍开短路测试系统的搭建过程,包括硬件选择、软件配置和系统集成.文章强调了该系统在自动缺陷检测、测试数据分析以及智能分类与分拣方面的应用,这些应用为传统测试生产带来了显著的效率提升和质量改进.
关键词
自动化测试机
/
开短路测试
/
硬件架构
/
软件配置
/
系统集成
引用本文
复制引用
出版年
2024
中国集成电路
中国半导体行业协会
中国集成电路
影响因子:
0.144
ISSN:
1681-5289
引用
认领
段落导航
相关论文
摘要
关键词
引用本文
出版年
参考文献
引证文献
同作者其他文献
同项目成果
同科学数据成果