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拓扑半金属的角分辨光电子能谱研究

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拓扑半金属是一类新奇的量子材料,它存在受拓扑保护的无能隙体态能带交叉和特征表面态.根据能带交叉的维度和简并度,拓扑半金属可以简单分为:零维的四重简并狄拉克半金属、二重简并外尔半金属、三重/六重/八重简并点半金属,和高维度的节线/节面半金属.近十年来,基于角分辨光电子能谱(ARPES)实验技术,人们可以直接测量拓扑半金属中的体态能带简并和特征表面态,清楚地揭示材料的拓扑本质.本文系统性回顾了使用ARPES研究各种类拓扑半金属的成果与进展,有助于理解其物理性质、拓扑起源以及探索更多新奇拓扑半金属.
Angle-resolved photoemission spectroscopy studies of topological semimetals

topological semimetalangle-resolved photoemission spectroscopyelectronic structureband degeneracyFermi arc

高顺业、钱天、杨乐仙、柳仲楷、陈宇林

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中国科学院物理研究所,北京凝聚态物理国家研究中心,北京100190

中国科学院大学,北京100049

保罗谢勒研究所光子科学部,菲利根CH-5232,瑞士

松山湖材料实验室,东莞523808

清华大学物理系,北京100084

上海科技大学物质科学与技术学院,拓扑物理实验室,上海201210

牛津大学物理系,牛津OX1 3PU,英国

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拓扑半金属 角分辨光电子能谱 电子结构 能带简并 费米弧

国家重点研发计划国家自然科学基金中国科学院项目中国科学院项目国家留学基金委项目中瑞青年学者交流项目

2022YFA1403803U1832202QYZDB-SSW-SLH023XDB33000000202104910090CN-EG-03-012021

2023

10.1360/SSPMA-2022-0413

中国科学(物理学 力学 天文学)
中国科学院

中国科学(物理学 力学 天文学)

CSTPCDCSCD北大核心
影响因子：0.644
ISSN：1674-7275
年,卷(期)：2023.53(6)
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