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新型微系统的辐射效应与抗辐射加固技术

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本文介绍了微系统的发展历程、现状和趋势,着重介绍了新型微系统:系统级芯片和系统级封装,分析了新型微系统面临的科学问题,总结了新型微系统辐射效应研究现状,给出了新型微系统在辐射环境中应用需要研究的问题:辐射效应规律和机理、辐照效应实验测试方法、抗辐射加固技术,期望加大财力、物力和人力的投入力度,通过重大项目研究解决微系统在辐射环境应用中遇到的关键科学问题,提高国产微系统的可靠性,促进和保障国产微系统的国防应用.
Radiation effects and radiation hardening technology of new microsystems
Herein,the development history,current status,and trends of microsystems are introduced,focusing on the introduction of new microsystems,namely system-on-chip and system-in-package.This work presents an analysis of the scientific problems faced by new microsystems;a summary of the current research status of radiation effects of new microsystems;and topics that need to be addressed for the application of new microsystems in radiation environments,namely radiation effect laws and mechanisms,radiation effect experimental testing methods,and radiation hardening technology.This work is expected to increase the investment in financial,material,and human resources;help solve key scientific problems encountered in the application of microsystems in radiation environments through major project research items;improve the reliability of domestic microsystems;and promote and guarantee the national defense application of domestic microsystems.

microsystemssystem on chipsystem in packageradiation effectsradiation hardening technology

贺朝会、陈伟、韩建伟、刘曦、李宁、陈睿、罗尹虹、姚志斌、李培、丁李利、吴道伟

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西安交通大学核科学与技术学院,西安 710049

西北核技术研究院,西安 710024

中国科学院国家空间科学中心,北京 100190

西安微电子技术研究所,西安 710065

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微系统 系统级芯片 系统级封装 辐射效应 抗辐射加固技术

国家自然科学基金国家自然科学基金

1183500612275211

2024

中国科学(物理学 力学 天文学)
中国科学院

中国科学(物理学 力学 天文学)

CSTPCD北大核心
影响因子:0.644
ISSN:1674-7275
年,卷(期):2024.54(3)
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