梁好、蒋章雷、罩绘桥、徐小力
北京信息科技大学 现代测控技术教育部重点实验室,北京 100192
双谱 特征指标 性能评价 故障诊断
北京学者计划资助北京信息科技大学"勤信人才"培育计划资助北京市优秀人才培养资助项目京津冀科技成果转化项目京津冀自然科学基金基础研究合作项目
2015-025QXTCP C2017132017000020124G01917YFCZZC00270-01J170004
2020