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与热压有关的“Si在绝缘体”上结构质量控制的X—射线方法
与热压有关的“Si在绝缘体”上结构质量控制的X—射线方法
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外文标题：
与热压有关的“Si在绝缘体”上结构质量控制的X—射线方法
外文关键词：
检测
X射线
质量控制
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出版年：
1998
Заводская лаборатория
Заводская лаборатория
ISSN：
1028-6861
年,卷(期)：
1998.
64
(3)
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