首页|光学干渉非接触温度測定法(OICT)によるシリコンウェハ内部の過渡的熱拡散過程の三次元イメージング

光学干渉非接触温度測定法(OICT)によるシリコンウェハ内部の過渡的熱拡散過程の三次元イメージング

光学干渉非接触温度測定法(OICT)によるシリコンウェハ内部の過渡的熱拡散過程の三次元イメージング

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三次元イメージングシリコン温度測定急速熱処理自己発熱熱暴走

松口康太郎、藤本渓也、Jiawen Yu、佐藤拓磨、花房宏明、東清一郎

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広島大学先進理工系科学研究科

2022

電子情報通信学会技術研究報告

電子情報通信学会技術研究報告

ISSN:0913-5685
年,卷(期):2022.122(8)