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LED外延与芯片测试方法及标准光源研究进展报告

赵丽霞 陈赤

LED外延与芯片测试方法及标准光源研究进展报告

赵丽霞 1陈赤2
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作者信息

  • 1. 中国科学院半导体研究所
  • 2. 中国计量科学研究院
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摘要

半导体照明(LED)是21 世纪最具发展前景的节能技术之一。日本、美国、欧盟、韩国、中国台湾和中国大陆都制定了相应的发展计划并取得了突破性进展,现已逐步进入照明领域,但产品的光色一致性、可靠性等还不十分令人满意。对于同一LED管子,两个厂家之间的测量结果可能存在百分之十几甚至百分之几十的误差,远远超过一般的光度测量精度范围。而且与传统光源相比,由于LED发光面小、光束狭窄、光谱范围窄、亮度高等特点,决定了其检测的特殊性。随着LED照明产品的应用和市场的不断推广,LED测试方法及标准的研究也越来越受到人们的重视。CIE分别成立了“TC2-45 LED测量”和“TC2-66 CIE/ISO LED强度测量标准” “TC2-50 LED 模组的光学特性测量”,“TC2-58 LED 辐亮度和亮度的测量”等技术委员会。目前我国大多数质检机构仍沿用传统的白炽光源的测量方法,导致测量结果的发散性过大。 总的来说,LED照明产品检测技术和产品标准方面还远远不能适应LED照明发展的要求。 半导体照明技术是基于GaN材料和GaN蓝光LED的突破和发展而出现的,所涉及的内容比较广泛,包括基础材料、外延材料、芯片、封装、二次光学设计、应用等一系列内容,需要建立与之相应的一系列标准体系,但其核心一直是GaN基的外延材料和LED芯片技术,因此基础标准是对氮化物半导体发光二极管外延与芯片测试方法的制定。 本课题主要是通过对LED外延、芯片和器件物理特性的研究,形成相应的半导体照明标准测试方法及光源计量标准。在课题执行过程中,围绕LED外延、芯片和器件,研究LED外延与芯片的相关物理性质,提出科学的LED外延与芯片检测核心测试技术和方法。研究LED内量子效率测试技术,了解LED外延与芯片中载流子的输运、复合等物理过程,为提高LED材料的内量子效率奠定基础;了解芯片热场分布特性,建立LED热学性能测试评价体系;研究LED流明维持测试方法,建立LED流明维持测试平台;研究标准光源的主要参数指标和测量方法,建立半导体照明标准光源组,为中国LED行业标准制定和检测提供技术支撑。本课题完成之后可对国内各省市计量所、质检部门、企业和科研机构提供各类LED相关检测设备的计量;各种LED应用器件包括LED灯具、LED模组、LED显示屏的光、色参数的计量、能效评价、视觉舒适度评价。此项目建立和完成后,既能产生社会效益又必将产生相应的经济效益。

关键词

LED/内量子效率/热阻/可靠性/寿命

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全文页数

91

报告类型

进展报告

编制时间

2015-10-09

立项年

2011
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