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期刊信息/Journal information
微电子学
微电子学

成福康

双月刊

1004-3365

wdzx@sisc.com.cn

023-62834360

400060

重庆市南坪花园路14号24所

微电子学/Journal MicroelectronicsCSCD北大核心CSTPCD
查看更多>>本刊是技术类期刊。传播、普及、推广 微电子科学技术知识，介绍国内微电子行业的最新研究成果和国外微电子业界的发展动态。有关微电子学基础理论，微电子器件与电路, 集成电路，半导体工艺和制造技术，集成电路封装技术，多芯片组件技术，集成电路可靠性技术，片上系统，集成系统等领域的研究论文、技术报告、综合评述、产品应用等内容。该刊被重点检索刊物、数据库、期刊网站所收录，是中国核心期刊之一。
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    LCCC封装器件热疲劳失效分析及结构优化研究

    刘敏陈轶龙李逵李媛...
    311-316页
    查看更多>>摘要：针对LCCC封装器件在温度循环载荷下焊点开裂的问题,首先分析其失效现象和机理,并建立有限元模型,进行失效应力仿真模拟.为降低焊点由封装材料CTE不匹配引起的热应力,提出了两种印制板应力释放方案,并分析研究单孔方案中不同孔径和阵列孔方案中不同孔数量对热疲劳寿命的影响.之后,为降低对PCB布局密度的影响,提出一种新型的叠层焊柱应力缓冲方案,进行了不同叠层板厚度和焊柱间距的敏感度分析.结果表明,更大的开孔面积、更小的叠层板厚度、更密的焊柱可有效降低焊点应力,提高焊点热疲劳寿命,使得LCCC封装器件焊点热疲劳可靠性得到有效提高.

    LCCC封装器件温度循环可靠性应力释放

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    一种高速A/D转换器时域重构技术研究

    崔庆林杨松
    317-322页
    查看更多>>摘要：A/D转换器在航空航天系统中的重要元器件,随着器件转换时钟频率不断提高而其工作环境不断恶化,如何准确测试其时间参数对于全面评价A/D转换器性能特别重要.目前对于高速A/D转换器时间参数测试,主流方法是通过示波器直接测试其输出,该方法对于示波器采样速度要求比较高.文章提出一种高速A/D转换器时域重构技术,可以通过计算机数字信号处理方法来实现高速A/D转换器时间参数测试,同时避免对示波器采样速度的依赖.同时,在研究高速A/D转换器时域重构技术方法及其应用的基础上,通过了相关试验验证.

    高速A/D转换器时域重构瞬态响应过压恢复缺陷分析单粒子闭锁和翻转

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    超高速数据采集及分析平台的设计与验证

    张续莹刘漾彭祖国徐德凯...
    323-329页
    查看更多>>摘要：设计并实现了超高速数据采集及分析平台,由FPGA数据采集激励板卡、测试分析软件和PC机构成,该系统用于JESD204C接口协议的模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)的测试分析.从元器件选型、PCB设计与仿真、激励和软件测试三个方面进行平台的搭建,以保证平台能够在JESD204C协议的传输速率下稳定运行.基于该平台对一款6 GSPS双通道16位ADC和12 GSPS四通道16位DAC芯片进行动态性能测试,测试结果显示,ADC的SNR为56.3 dBFS,DAC的SFDR为65.5 dBFS,性能指标与手册值接近,表明该数据采集平台的功能与性能得到验证,可推广至JESD204C接口协议的其他芯片的测试,具备一定的通用性.

    采集激励板卡JESD204C模数转换器数模转换器测试与应用

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    环境温度对HfO2铁电存储器的质子辐照效应影响研究

    朱旭昊袁亦辉黄铭敏马瑶...
    330-337页
    查看更多>>摘要：基于HfO2的铁电随机存取存储器(FeRAM)具有功耗低、存取速度快,易于小型化,抗干扰能力强等优势,在航天航空领域有广袤的发展空间.然而,FeRAM在太空环境下的抗辐照性能尚未得到全面的研究.研究了W/TiN/Hf0.5Zr0.5O2(HZO)/TiN铁电存储器在常温和高温环境下经5 MeV质子辐照后的电学特性和铁电畴结构变化.通过电学和压电响应力显微镜(PFM)手段表征发现,在常温质子辐照后,电容器的介电常数(er)和剩余极化强度(Pr)值均增大,器件的铁电性能提升,常温高注量质子辐照有利于存储器在太空环境中工作,但随着辐照时环境温度升高,HZO存储器的铁电性能下降,漏电流增大,铁电存储器的各项性能明显退化.

    HfO2铁电存储器质子辐照温度

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    一种针对FPGA位流的自动化故障注入分析方法

    雷婉刘丹王立辉李清...
    338-345页
    查看更多>>摘要：理论上通过篡改FPGA位流,利用其实现的密码算法的错误输出可以分析出密钥,但这种攻击通常需要非常了解目标FPGA的内部结构与位流的对应关系.而位流逆向的难度很大,导致此类攻击的实用性不高.文章提出一种针对FPGA位流的自动化故障注入分析方法,不需要逆向位流,结合张帆等人提出的持久性故障分析理论,把因篡改算法常量导致的出错结果作为可利用的故障.并首次在Xilinx-7系列FPGA开发板上利用Spider进行电压故障注入实验,480条错误密文就可以得到AES-128的密钥,且在10 min内可以完成数据的采集和分析.对于加密位流的情况,可以先利用电磁侧信道分析方法得到明文位流,再结合该文的分析方法来进行密钥破解.

    FPGA安全自动化故障注入持久性故障分析

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    一次性可编程存储器的数据保持特性建模及分析

    钟岱山王美玉陈志涛张有志...
    346-350页
    查看更多>>摘要：基于300 mm 0.18 μm MS 5 V工艺平台设计并流片了 1k×16 一次性可编程OTP器件,并对存储单元的结构、工作原理及工艺等可能影响数据保持寿命的因素进行了分析.根据Arrhenius寿命模型对不同样品设置了高温老化实验测试,收集数据并对OTP器件的保持特性进行建模.通过225 ℃、250 ℃和275 ℃条件下的高温老化加速实验,拟合样品最大数据保持时间曲线.在生产过程中可能出现的最差产品条件下,对1/(kT)与数据保持时间曲线进行数学拟合,计算在不同失效条件下的浮栅电荷泄漏的激活能和最大数据保持时间.

    一次性可编程存储器嵌入式非易失性存储器数据保持寿命加速老化实验Arrhenius模型激活能

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    小型化高隔离度射频滤波模组设计研究

    彭佳红王玺谭玉婷陈焱杰...
    351-354页
    查看更多>>摘要：围绕射频滤波模组设计开展研究,针对模组小型化高集成度设计中的射频信号传输及隔离问题,进行了内部关键电路结构的精细化三维电磁场建模仿真分析,以提高模型的准确度.通过关键结构制作及去嵌测试,验证了仿真设计的准确性.并加工了一款尺寸为14.97 mm× 12.01 mm×1.29 mm的L波段射频滤波模组,该滤波模组集成滤波器数量为16个,插入损耗≤5.20 dB,带外抑制≥42.5 dB.

    射频滤波模组隔离度去嵌测试带外抑制

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