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基于改进的SIFT算法的红外图像配准
基于改进的SIFT算法的红外图像配准
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中文摘要:
电路板红外图像具有分辨率低、对比度低、信噪比低、视觉效果模糊的特点,目前的图像配准算法用于电路板红外图像配准时,运算时间长且匹配准确度低.针对电路板红外图像的特点,梳理了图像配准方面的国内外研究现状,分析了SIFT算法的基本原理,对原有的SIFT算法进行了修改.对特征点的提取方式进行了改进,减少了不必要的特征点;改进了特征点的描述符,降低了特征向量的维数;在特征点匹配的时候加入了分层阈值.对改进的算法进行了一系列的测试,针对三对电路板的红外图像进行配准,实验结果表明,相比于传统的SIFT算法,改进的SIFT算法在进行电路板红外图像配准的时候,匹配的准确率和运算时间得到了很大的提升,为电路板红外图像的配准提供了新的方法.
外文标题:
Infrared Image Registration Based on Improved SIFT Algorithm
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作者:
蔡天旺、付胜
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作者单位:
北京工业大学,北京 100022
三亚学院,海南三亚 572022
关键词:
特征点匹配
电路板红外图像配准
描述子
分层阈值
出版年:
2021
DOI:
10.19708/j.ckjs.2021.07.008
测控技术
中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所
测控技术
CSTPCD
影响因子:
0.5
ISSN:
1000-8829
年,卷(期):
2021.
40
(7)
被引量
7
参考文献量
12