摘要
针对阵列天线实现宽角端射扫描问题,提出基于综合测试方法的耦合系数估计理论,实现阵元间耦合校正,并使相控阵实现接近端射(θ=90°)的辐射效果.由于阵列中的强互耦效应导致阵元方向图发生畸变,阵列整体的扫描性能降低,相控阵无法达到端射扫描的角度.使用基于综合测试方法的耦合系数估计理论进行分析,可以通过场的分布关系获得阵元间的耦合系数.仿真结果表明:通过使用耦合系数估计的方法,阵元方向图得到良好校正,相控阵不仅能够达到端射(θ=90°)扫描角度,而且在扫描过程中相控阵副瓣电平比同类型相控阵要降低至少8 dB.
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