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在光子芯片上减慢光速新方法找到

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2024

电子产品可靠性与环境试验
工业和信息化部电子第五研究所（中国电子产品可靠性与环境试验研究所） （中国赛宝实验室）

电子产品可靠性与环境试验

影响因子：0.438
ISSN：1672-5468
年,卷(期)：2024.42(1)