电子与封装2022，Vol.22Issue(4) ：68-72.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0401

FPGA多程序动态老炼系统设计

Design of FPGA Multi-Program Dynamic Burn-in System

季振凯 谢文虎
电子与封装2022，Vol.22Issue(4) ：68-72.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0401
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FPGA多程序动态老炼系统设计

Design of FPGA Multi-Program Dynamic Burn-in System

季振凯 1谢文虎1
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作者信息

  • 1. 无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡 214072
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摘要

老炼试验可以加速FPGA老化,使FPGA快速进入失效率较低且稳定的偶然失效期,是剔除存在潜在缺陷FPGA电路的重要方法.但是随着FPGA的规模越来越大,传统的单段程序动态老炼无法实现FPGA大部分资源的逻辑翻转,电路潜在缺陷部位无法及时暴露,可能导致缺陷电路异常流出.针对单段程序动态老炼的局限性,设计了一种可循环写入多段老炼程序的多程序动态老炼硬件系统,同时针对该老炼系统开发了 FPGA老炼程序,可显著提高FPGA的老炼覆盖率.

关键词

老炼/FPGA/多程序/覆盖率

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出版年

2022
电子与封装
中国电子科技集团公司第五十八研究所

电子与封装

影响因子：0.206
ISSN：1681-1070
被引量1
参考文献量2
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