中国电子科技集团公司第五十八研究所
王虹麟
月刊
1681-1070
ep.cetc58@163.com
0510-85860386
214035
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
封装技术金铝键合高温加速寿命试验寿命模型
维普
万方数据微纳铜化学液相还原法封装互连
维普
万方数据混装焊点金属间化合物热循环疲劳寿命
维普
万方数据陶瓷基板多层薄膜封装重构
维普
万方数据自旋转移力矩随机磁存储器磁隧道结宽温区温度自适应写电压产生电路
维普
万方数据时间数字转换器高精度FPGA进位链抽头延迟线
维普
万方数据功率变换自激振荡推挽变换Royer电路混合集成
维普
万方数据脉宽调制死区时间设置电压自举半桥驱动
维普
万方数据低压交叉耦合LDO跨导运算放大器
维普
万方数据系统级封装半导体激光器恒温控制驱动电流
维普
万方数据