电子与封装2022,Vol.22Issue(7) :57-63.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0713

纳米器件单粒子瞬态仿真研究

Simulation Research on the Single Event Transient in Nano-Devices

殷亚楠 王玧真 邱一武 周昕杰 郭刚
电子与封装2022,Vol.22Issue(7) :57-63.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0713

纳米器件单粒子瞬态仿真研究

Simulation Research on the Single Event Transient in Nano-Devices

殷亚楠 1王玧真 1邱一武 1周昕杰 1郭刚2
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作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡 214072
  • 2. 中国原子能科学研究院,北京 102413
  • 折叠

摘要

利用计算机辅助设计软件,研究了不同条件下28nm体硅器件的单粒子瞬态(SET)效应,分析了不同器件间距、线性能量转移值和粒子入射角度对器件SET效应的影响.随着器件漏极间距的减小,SET脉冲幅度和脉冲宽度随之减小.与垂直入射的情况相比,倾角入射下SET脉冲幅度和宽度的减小程度更加明显,电荷共享效应更加显著.仿真结果表明,合理调节反相器相异节点的器件间距,利用器件间的电荷共享可以有效减弱重离子产生的SET脉冲,减少单粒子效应的反应截面.

关键词

单粒子瞬态/辐射效应仿真/电荷共享

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基金项目

抗辐射应用技术创新中心创新基金(KFZC2021010202)

出版年

2022
电子与封装
中国电子科技集团公司第五十八研究所

电子与封装

影响因子:0.206
ISSN:1681-1070
被引量1
参考文献量1
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