国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
电子与封装
2022,
Vol.
22
Issue
(8) :
20-25.
DOI:
10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0804
基于FPGA的自动测试设备信号延时误差测量
Measurement of Signal Delay Error of Automatic Test Equipment Based on FPGA
季振凯
吴镇
电子与封装
2022,
Vol.
22
Issue
(8) :
20-25.
DOI:
10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.0804
下载
引用
认领
✕
来源:
国家科技期刊平台
NETL
NSTL
维普
万方数据
基于FPGA的自动测试设备信号延时误差测量
Measurement of Signal Delay Error of Automatic Test Equipment Based on FPGA
季振凯
1
吴镇
1
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
作者信息
1.
无锡中微亿芯有限公司,江苏无锡 214072
折叠
摘要
为满足集成电路自动测试设备(ATE)通道间信号同步的需求,基于FPGA提出了一种ATE激励信号传输延时误差的测量方法.该方法硬件结构简单,充分发挥了FPGA与ATE的特性.实验结果表明,该方法的测量结果与示波器测量结果误差在4%以内,能满足激励信号频率小于200 MHz的测量要求.
关键词
FPGA
/
传输延时
/
自动测试设备
/
信号同步
引用本文
复制引用
出版年
2022
电子与封装
中国电子科技集团公司第五十八研究所
电子与封装
影响因子:
0.206
ISSN:
1681-1070
下载
引用
认领
被引量
2
参考文献量
7
段落导航
相关论文
摘要
关键词
引用本文
出版年
参考文献
引证文献
同作者其他文献
同项目成果
同科学数据成果