电子与封装2022，Vol.22Issue(10) ：81-85.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1006

基于加速寿命试验的磁耦隔离器耐压寿命评价方法

Evaluation Method of Withstand Voltage Life of Magnetic Coupling Isolators Based on Accelerated Life Test

曹玉翠 李泽田 胡林江 张峰
电子与封装2022，Vol.22Issue(10) ：81-85.DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1006
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基于加速寿命试验的磁耦隔离器耐压寿命评价方法

Evaluation Method of Withstand Voltage Life of Magnetic Coupling Isolators Based on Accelerated Life Test

曹玉翠 1李泽田 2胡林江 1张峰1
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作者信息

  • 1. 中国科学院自动化研究所,北京 100098
  • 2. 中央军委装备发展部军事代表局驻北京地区第二军事代表室,北京 100042
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摘要

为解决磁耦隔离器耐压寿命评估的实际需求,开展了适用于磁耦隔离器的加速寿命试验与寿命评价.研究了影响磁耦隔离器耐压寿命的关键因素,分析了加速寿命试验的可行性与加速模型的选取.合理设计加速寿命试验方案中的应力类型、应力水平、截尾时间等,并按照设计的试验电路方案进行试验.利用采集到的试验数据,结合加速模型推导出电压-寿命之间的关系,实现磁耦隔离器耐压寿命的评估和可靠性评价.

关键词

磁耦隔离器/加速寿命试验/耐压寿命/可靠性

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出版年

2022
电子与封装
中国电子科技集团公司第五十八研究所

电子与封装

影响因子：0.206
ISSN：1681-1070
被引量1
参考文献量10
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