国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
电子与封装
2022,
Vol.
22
Issue
(12) :
85-93.
DOI:
10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1208
高温SOI技术的发展现状和前景
Development Status and Prospects of High-Temperature SOI Technology
罗宁胜
曹建武
电子与封装
2022,
Vol.
22
Issue
(12) :
85-93.
DOI:
10.16257/j.cnki.1681-1070.2022.1208
下载
引用
认领
✕
来源:
国家科技期刊平台
NETL
NSTL
维普
万方数据
高温SOI技术的发展现状和前景
Development Status and Prospects of High-Temperature SOI Technology
罗宁胜
1
曹建武
1
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
作者信息
1.
CISSOID中国代表处,广东深圳 518118
折叠
摘要
高温绝缘层上硅(SOI)技术突破了体硅半导体器件的高温困境,已被广泛应用于石油天然气钻探、航空航天和国防装备等尖端领域.近年来,第三代宽禁带半导体功率器件已日趋成熟和普及,其中SiC器件以其先天的耐高压、耐高温等特性,与高温SOI器件是非常理想的搭配,适用于原本体硅半导体功率器件难以实现或根本不能想象的应用场景,为系统应用设计者提供了全新的拓展空间.在简述体硅半导体器件高温困境的基础上,综述了高温SOI技术的发展现况,并探讨了其未来的发展方向和应用前景.
关键词
体硅
/
绝缘层上硅
/
SiC
/
高温SOI技术
引用本文
复制引用
出版年
2022
电子与封装
中国电子科技集团公司第五十八研究所
电子与封装
影响因子:
0.206
ISSN:
1681-1070
下载
引用
认领
被引量
2
参考文献量
1
段落导航
相关论文
摘要
关键词
引用本文
出版年
参考文献
引证文献
同作者其他文献
同项目成果
同科学数据成果