电子工业专用设备2024,Vol.53Issue(2) :8-11.

干式抛光在减薄加工中的工艺研究

Research on Dry Polishing Technology in Grinding Application Process

孙莉莉 衣忠波 王刚
电子工业专用设备2024,Vol.53Issue(2) :8-11.

干式抛光在减薄加工中的工艺研究

Research on Dry Polishing Technology in Grinding Application Process

孙莉莉 1衣忠波 1王刚1
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作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京 100176
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摘要

介绍了干式抛光的工艺过程和原理,主要研究了干式抛光工艺过程中抛光压力、抛光位置、抛光时间对晶片表面粗糙度的影响.提出减小晶片表面粗糙度的工艺措施,为减少后续抛光工序的抛光时间提供指导.

Abstract

The process and principle of dry polishing are introduced in this paper,and mainly studies the influence of polishing pressure,polishing position and polishing time on the surface roughness of wafer.The technological measures to reduce the surface roughness of wafer are put forward to pro-vide guidance for reducing the polishing time of subsequent polishing process.

关键词

干式抛光/粗糙度/工艺研究

Key words

Dry polishing/Roughness/Process research

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出版年

2024
电子工业专用设备
中国电子科技集团公司第四十五研究所

电子工业专用设备

影响因子:0.157
ISSN:1004-4507
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