电子工业专用设备2024,Vol.53Issue(3) :20-23.

SDB-SOI制备过程中工艺控制

Control of the SDB-SOI Processing Process

刘洋
电子工业专用设备2024,Vol.53Issue(3) :20-23.

SDB-SOI制备过程中工艺控制

Control of the SDB-SOI Processing Process

刘洋1
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  • 1. 中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津 300220
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摘要

SOI(Silicom-On-Insulator)晶圆是绝缘氧化物上有一层薄硅膜的硅晶圆.在SDB-SOI晶圆制备过程中,需要在进行晶圆键合、磨削、抛光等工序过程中,通过对键合空腔、顶硅厚度、顶硅TTV、顶硅形状、顶硅表面等参数的控制,可以降低后续工序加工难度,最终制备出高质量的产品.

Abstract

SOI(Silicom-On-Insulator)wafer is a silicon wafer with a thin silicon film on an insulating oxide.In the process of SDB-SOI wafer preparation,it is necessary to conduct wafer bonding,grinding,polishing and other processes,through the bonding cavity,top silicon thickness,top silicon TTV,top silicon shape,top silicon surface and other parameters control,the difficulty of subsequent processing can be reduced,and high-quality products are finally prepared.

关键词

硅晶圆/绝缘衬底上硅(SOI)/键合/磨削

Key words

Silicon wafer/SOI(Silicom-On-Insulator)/Bonding/Grinding

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出版年

2024
电子工业专用设备
中国电子科技集团公司第四十五研究所

电子工业专用设备

影响因子:0.157
ISSN:1004-4507
参考文献量4
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