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离子聚集、迁移导致LCD器件显示不良之分析
离子聚集、迁移导致LCD器件显示不良之分析
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中文摘要：
探讨LCD制程中离子的来源,影像残留、显示黑影白影的根本原因,并以现有的LCD生产设备和制作工艺为基础,研究如何通过优化材料设计以及寻找合适驱动条件来尽量避免显示Mura不良的发生.
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作者：
金小莉、袁景辉
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作者单位：
汕头超声显示器有限公司,广东 汕头 515041
关键词：
离子
影像残留
显示Mura
PI配向
驱动
出版年：
2015
轻工科技
广西轻工业科学技术研究院
轻工科技
影响因子：
0.261
ISSN：
1003-2673
年,卷(期)：
2015.
31
(7)
参考文献量
3
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