基于结构光的双路尺寸测量系统设计

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中文摘要：近年来人们对出厂工件的要求越来越高,尺寸是评判其优劣的重要指标.市面上的工件尺寸测量,大多是高精度的接触式测量方法,需人工操作,费时费力.本文设计了一套基于双路结构光的尺寸测量系统,用于解决单目结构光视觉系统视场不足的难题,使用采集到的双视场数据进行数据融合拼接的方法进行三维还原,解决阴影问题的同时提高了测量精度.

外文标题：Design of a two-way structured light measurement system

作者：

李易凡、张建新、罗剑波

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作者单位：

浙江理工大学机械与自动控制学院,浙江杭州 310018

关键词：

结构光三维还原尺寸测量数据融合拼接

出版年：

2023

DOI：

10.16644/j.cnki.cn33-1094/tp.2023.02.027