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基于维纳过程的GaAs激光器可靠性评估

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提出一种基于维纳过程的可靠性评估方法。根据产品的退化数据建立基于维纳过程的退化模型，进而采用Bootstrap方法来提高小样本情况下退化参数的估计精度，最后，对退化过程首达时的分析来获得产品的寿命分布。通过对GaAs激光器的退化数据进行可靠性评估和寿命预测，结果表明该方法相比现有方法更符合实际。

李全鹏

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合肥市第三十五中学 安徽·合肥 230031

可靠性 退化数据 维纳过程 Bootstrap方法

2013

科协论坛(下半月)
湖北省科学技术协会

科协论坛(下半月)

影响因子：0.101
ISSN：1007-3973
年,卷(期)：2013.(10)
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