摘要
目的:探讨低温等离子下行扁桃体囊内全切除术(total intracapsular tonsillectomy,TIT)的临床应用.方法:纳入自2021年6月-2022年9月行扁桃体全切除术及扁桃体囊内全切除术或伴腺样体切除术符合纳入标准的学龄期儿童共222例,根据是否保留被膜分为全扁桃体切除术组127例和扁桃体囊内全切除术组95例,记录手术时间、术区创面情况及伪膜脱落时间、术后继发出血情况、术后疼痛评估以及术后3个月随访患儿咽部情况.结果:两组患儿手术时间及术后术区创面情况差异有统计学意义(P＜0.05);低温等离子下TIT组的术后伪膜脱落时间短于低温等离子下行全扁桃体切除术组(P＜0.05);术后继发出血情况中,低温等离子下行扁桃体囊内全切除术组的术后继发出血1例,全扁桃体切除术后继发出血5例(P＞0.05);术后患儿3个月患儿咽部不适发生率明显低于全扁桃体切除术(P＜0.05).结论:低温等离子下行TIT可能成为全扁桃体切除术的替代方式,该术式痛苦更少,伪膜脱落速度更快,降低了术后并发症.这将是一种安全有效并能更大程度地提高患儿生活质量的选择.
NETL
NSTL
万方数据