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基于STM32的数字集成电路测试仪的设计

Design of digital integrated circuit tester based on STM32

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设计了一种基于STM32的数字集成电路测试仪,用于检测74LS00、74LS20等实验教学中常用的74系列芯片.系统将功能测试法和参数测试法相结合,以检测被测芯片的逻辑功能和扇出能力.采用STM32F103VET6作为微控制器,通过按键可对其进行操作,构建了引脚配置与选择单元,以满足74系列芯片的引脚需求,利用A/D转换单元来获取输出电流,测试结果在LCD屏中显示.实际测试结果表明:该测试仪操作简单,测试时间短,能准确测量芯片的性能,满足实验教学的需求.

于宝堃、石晟屹、马望男、李寅博

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天津科技大学电子信息与自动化学院, 天津 300457

STM32 数字集成电路测试仪 实验教学

1902A401

2021

10.3969/j.issn.1672-4305.2021.04.019

实验室科学
南开大学　中国高等教育学会

实验室科学

影响因子：0.805
ISSN：1672-4305
年,卷(期)：2021.24(4)
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