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材料とプロセス
2022,
Vol.
35
Issue
(1 TN.183) :
1.
(J019)界面再構成法によるSi 基合金中4H-SiC (000-1)面の1873 K におけるバンチング挙動の組成依存性の調査
青木秀人
Didier Chaussende
川西咲子
材料とプロセス
2022,
Vol.
35
Issue
(1 TN.183) :
1.
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来源:
NETL
NSTL
(J019)界面再構成法によるSi 基合金中4H-SiC (000-1)面の1873 K におけるバンチング挙動の組成依存性の調査
青木秀人
1
Didier Chaussende
2
川西咲子
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作者信息
1.
東京大学
2.
Grenoble-Alpes Univ.-CNRS
3.
東北大学
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出版年
2022
材料とプロセス
材料とプロセス
ISSN:
1882-8922
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