查看更多>>摘要：对p型PERC双面单晶硅光伏组件在负偏压、正偏压下的电势诱导衰减(PID)效应进行了深入研究,并对此类光伏组件背面发生PID效应后的电性能恢复情况进行了研究.研究结果表明:1)在-1500 V偏压下进行PID测试后,在标准测试条件(STC)下,96 h PID测试后此类光伏组件背面的电性能急剧下降,正面的电性能也受到明显影响;在 200 W/m2 太阳辐照度条件下,此类光伏组件正面和背面的电性能损失更加明显.将PID测试延长至 480 h后,与 96 h的测试结果相比,此类光伏组件背面的最大输出功率、开路电压和短路电流都有不同程度的回升.这是因为当太阳电池处于负偏压时,正电荷被吸引到AlOx/SiNx钝化叠层,并消除了钝化层的场钝化效应;但是随着更多的正电荷被困在AlOx/SiNx钝化叠层中,太阳电池的背面产生了电子反转层,最终导致太阳电池的有效载流子寿命增加.2)在+1500 V偏压下进行96 h的PID测试后,此类光伏组件正面的电性能衰减可忽略不计,背面的电性能甚至还略有提高.这是因为当太阳电池处于正偏压时,负电荷被吸引到太阳电池的背面,然后积聚在AlOx/SiNx钝化叠层中;这些负电荷有助于将硅片中的少数载流子(电子)从背面排斥出去,从而提高此类光伏组件的电性能.3)此类光伏组件背面的极化型PID(PID-p)效应可以恢复,而且将光伏组件背面暴露在紫外线下可以大幅加快恢复的速度.对于实际在户外运行且具有大工作电压的光伏发电系统而言,此类光伏组件背面受到PID-p效应的影响最小甚至未受到其影响.
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