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期刊信息/Journal information
电子器件
东南大学
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东南大学

孙立涛

双月刊

1005-9490

dzcg-bjb@seu.edu.cn

025-83794925

210096

南京市四牌楼2号东南大学

电子器件/Journal Chinese Journal of Electron DevicesCSCD北大核心CSTPCD
查看更多>>本刊主要向国内外介绍有关电子学科领域的新理论、新思想、新技术和具有国内外先进水平的最新研究成果和技术进展。本刊发扬学术民主,坚持双百方针,为促进国内外学术交流、促进电子科学技术快速发展和国民经济建设服务。 本刊主要刊登真空电子学、微波电子学、光电子学、薄膜电子学、电子显示技术、激光与红外技术、半导体物理与器件、集成电路与微电子技术、光纤技术、真空物理与技术、表面分析技术、传感技术、电子材料与元器件、电光源与照明技术、电子技术应用,并涉及电子科学领域里的最新研究动态。
正式出版
收录年代

    基于电荷注入机制的驱动电压可重构的MEMS开关

    郑从兵张鹏飞王立峰韩磊...
    1191-1196页
    查看更多>>摘要:本文提出了一种新方法来解决传统静电驱动的电容式微机电(MEMS)开关的驱动电压过高的问题.通过对介质层预先注入和存储适量的电荷,在该介质层中形成稳定的内建电势,这将优化MEMS固支梁的下拉操作,从而有效降低MEMS开关的驱动电压.此外,在开关制备完成后,仍可通过调控介质层中注入电荷的数目来调节内建电势大小,从而在不改变MEMS开关结构参数的条件下实现MEMS开关驱动电压的可重构功能.建立了该新型MEMS开关的解析模型,对该新型模型进行分析,并验证了模型的正确性.

    MEMS开关电荷注入驱动电压可重构

    微间隙气体放电击穿过程分析

    王林华孙岩洲董克亮刘绪光...
    1197-1202页
    查看更多>>摘要:为了对微米尺度气体间隙下放电击穿过程进一步研究,在大气压空气环境下进行了电极间距为1μm~100μm的直流击穿实验.绘制了击穿电压曲线与Paschen曲线对比,针对1μm~10μm击穿电压偏离Paschen曲线进行分析.通过推导计算,得出在1μm~10μm时随着外加电压的增加,阴极较高的离子数密度将会产生较高的附加电场,附加电场随着电极间距的增加而减小,从而在微间距下存在较强的离子增强效应;最后,结合离子增强效应二次系数γ′与Townsend二次系数γ的比值,γ′/γ随电极间距d的变化曲线得出,1μm~5μm时,放电过程是由离子增强效应场发射主导发生,且随着间距增大离子增强效应逐渐减弱.在10μm~100μm时,击穿电压的变化基本符合Paschen曲线,其放电过程可以用汤森雪崩理论解释.

    微间隙Paschen曲线离子增强效应场发射γ系数

    无线无源蓝宝石高温压力传感器的设计与性能测试

    刘少楠张润丰董梦如陈常青...
    1203-1209页
    查看更多>>摘要:针对高温恶劣环境下对压力参数的测试需求,以单晶蓝宝石为原材料,对无线无源蓝宝石高温压力传感器进行了设计、工艺加工及性能测试.以压力膜片敏感原理为主要根据,结合不同的信号传输与提取方式,首先对LC谐振式的无线无源蓝宝石高温压力传感器进行了设计,然后通过蓝宝石刻蚀、蓝宝石减薄、直接键合等3个关键工艺实现了蓝宝石密封压力腔的制备,利用丝网印刷工艺实现了电容极板、电感线圈与基底的金属化集成.最后通过搭建的高温-压力复合测试系统对制备的无线无源蓝宝石高温压力传感器进行了高温环境下的性能测试.测试结果表明:制备的高温压力传感器能够实现600℃高温环境下20 kPa~600 kPa范围内的压力测试,600℃下传感器的灵敏度与零点温度漂移系数可做到10.36 kHz/kPa和0.0276 MHz/℃.

    高温压力蓝宝石无线无源

    基于昇腾NPU的癌细胞检测算法设计及实现

    吴振宁肖仲喆江均均黄敏...
    1210-1214页
    查看更多>>摘要:为了解决临床针图像中循环肿瘤细胞(CTC)人工检测效率低的问题,提出了利用经典图像处理方法进行预处理并利用卷积神经网络(CNN)进行判断识别的解决方法.通过预处理初步检测出图像中所有的疑似癌细胞,将得到的细胞图像输入到训练好的网络进行判断并得到检测结果.实验中采用临床采集的图像进行测试,测试过程中网络判别准确率为90%,且没有出现漏判.结果表明:利用卷积神经网络的癌细胞识别方法具有可靠的效果,相较于人工判断具有精度上的优势,能够作为癌细胞识别的重要手段.同时,算法在集成了NPU加速芯片的华为Atlas200 DK硬件平台上运行,实现了运算加速,并为实现应用的离线部署创造了条件.

    癌细胞检测预处理NPU卷积神经网络

    电力电子电路PCB电场串扰及屏蔽研究

    袁义生兰梦罗
    1215-1221页
    查看更多>>摘要:由于开关电源中存在高du/dt干扰源,这对PCB上的电压采样等敏感导线将产生强烈的电场串扰.本文通过COMSOL软件研究了PCB上干扰源和敏感导线间的寄生电容及屏蔽方法和效果,仿真获取了不同干扰源导线宽度w1、敏感导线宽度w2,长度为L,以及两者间距d下的寄生电容Cp值,再采用拟合函数的方法,得到了寄生电容Cp与[w1,w2,d]的关联函数,并进行了特性分析.在两根导线之间插入宽度为w3、长度为L1、与干扰源和敏感导线距离分别为d1和d2的屏蔽地线,分析屏蔽系数η与[w3/d,d1/d2,L1/L]之间的关联.最后通过实验验证了PCB电场串扰特性和屏蔽特性与理论分析基本吻合.

    PCB电场串扰线间寄生电容屏蔽系数有限元分析

    一种微纳多齿谐振光栅偏振分束器

    张永棠
    1222-1227页
    查看更多>>摘要:微纳光学器件是光路集成、片上光电转换和检测的重要基础器件.基于硅基微纳多齿谐振光栅,设计了一种高性能的微纳多齿谐振光栅偏振分束器(PBS).应用光栅对于TE和TM偏振光表现出不同的衍射性质,从而实现偏振分束的目的.通过严格耦合波理论分析,研究了光栅PBS的性能.结果表明,在1.53~1.62μm(90 nm)的宽带光谱上,该PBS的衍射效率大于97%,消光比(ER)大于16dB,以及角度带宽为8°等的优越性能.此外,还研究了结构参数对光栅PBS性能的影响,数值分析表明,该装置具有良好的工艺容差,可广泛应用于通信系统的路由和交换设备.

    衍射光栅偏振分束器泄露模谐振光学器件光通信

    制备高Q值的光波导谐振腔的关键技术研究

    焦克莹
    1228-1231,1261页
    查看更多>>摘要:品质因数Q是光学谐振腔具备的非常重要的参数,尺寸较大的谐振腔虽然每圈的损耗更大,但是它却拥有更高的Q值.针对此问题,从光子寿命方面对谐振腔的结构进行了相应的建模分析和仿真,然后提出引入等效单位传输损耗对谐振腔的腔长和品质因数的关系进行了理论上的分析并进行了仿真.通过硅基微纳加工技术加工了四种腔长分别为3.1 cm,9.5 cm,12.6 cm,18.8 cm的光波导谐振腔,保持其耦合系数不变时的测试结果为:谐振腔的传输损耗随着腔长的增加而降低,品质因数Q增大,测试结果与理论值一致.该结论为制备更高品质因数的光波导谐振腔提供一种新的研究思路.

    集成光学谐振腔品质因数回音壁模式光波导

    基于软磁材料提高磁传感器灵敏度的研究

    郭姗姗姜伟
    1232-1237页
    查看更多>>摘要:针对微型磁传感器对弱磁场测量灵敏度低的问题,利用软磁材料对外磁场的集聚放大作用来提高磁测系统的灵敏度.重点针对T-形磁通集聚器的轴向磁场放大特性及影响因素进行了分析,并设计了相应的磁通集聚器并进行试验测试.试验表明所设计的T-形磁通集聚器具有很好的磁场线性放大作用,可用于提高弱磁场的测量精度.磁力线在磁通集聚结构内部流动的过程中发生了磁通泄漏现象;T-形磁通集聚器对外部磁场放大了约21倍;磁通集聚器的相对磁导率及空气间隙与外部磁场的放大倍数都呈非线性的关系,结构的长宽之比与外部磁场的放大倍数呈单调递增关系,结构厚度对其几乎没有影响.该研究结果能够为磁通集聚器结构设计及优化方面提供一定的参考价值.

    灵敏度T-形磁通集聚器外部磁场放大特性

    基于工艺特性的电磁吸力仿真分析研究

    肖斌刘雷谢林炜杨文英...
    1238-1243页
    查看更多>>摘要:现有电磁继电器的设计过程中,一般采用有限元方法对电磁系统进行仿真分析,但是仿真设计通常基于理想的情况进行,未考虑电磁系统装配过程中加工工艺带来的影响,导致仿真分析结果与实际存在差异.针对有限元仿真未考虑工艺变化带来影响的问题,提出了一种考虑工艺影响的电磁系统仿真分析方法.以磁保持电磁继电器的电磁系统为例,研究电磁系统装配过程中激光焊接、铆接工艺对电磁吸力的影响,找到影响电磁吸力的关键点并加以控制,最终降低有限元仿真与实测数据的误差.研究结果表明,在考虑工艺变化的情况下进行仿真分析,会使得仿真数据更接近实测的数据,且有助于找到工艺控制要点.

    磁保持继电器电磁系统电磁吸力有限元仿真工艺特性

    背钻Stub对高速信号完整性影响的实验研究

    杜红兵秦典成王小平纪成光...
    1244-1248页
    查看更多>>摘要:利用内层导电两次背钻工艺对同一设计的36层高速PCB的差分过孔背钻后预留不同长度的Stub,然后基于频域法并借助矢量网络分析仪对上述差分过孔及其所在90Ω的差分阻抗线的信号完整性进行了研究.结果表明,内层导电两次背钻工艺可以大幅减小Stub长度,从而提升高速信号在PCB中传输完整性;当Stub长度从60 mil降至6 mil时,对应的过孔因容性突变效应减弱,阻抗由69.2Ω上升至94.8Ω,过孔阻抗一致性提升使得PCB的回波损耗及插入损耗均呈现出降低趋势;当Stub长度为6 mil时,PCB的回波损耗在较宽的信号频率范围内均小于-15 dB,表现出良好的信号完整性.

    高频高速PCB信号完整性频域法背钻回波损耗插入损耗