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中国集成电路
中国集成电路

王永文 魏少军

月刊

1681-5289

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100016

北京朝阳区将台西路18号5号楼816室

中国集成电路/Journal China Integrated Circuit
查看更多>>本刊报道内容涉及半导体微电子科学与技术及其应用的各个领域,包括微电子器件与电路的基础及其设计技术、电子设计自动化、工艺技术、设备材料、封装技术、产业发展、应用技术及市场等。
正式出版
收录年代

    基于倍频OS-PWM算法的LED驱动芯片设计

    孟健杨林涛范学仕
    52-58页
    查看更多>>摘要:LED(Light Emitting Diode)广泛应用于显示领域,LED显示屏凭借着功耗低、寿命长的特点在大屏显示行业占据主流地位,尤其是在户外广告等细分领域市场份额远高于其他类型产品,但LED显示屏由于其本身的材料特性,在实际应用中也存在着诸多问题,比如刷新率偏低、开路十字架、首行偏暗、鬼影以及低灰色阶均匀性差等.为缓解上述问题,增强使用场景,我们尝试开发了一款32扫恒流输出LED驱动芯片,并对其内部一些主要数字电路模块进行了设计与仿真,如复位生成电路、指令译码电路、PWM控制电路、SRAM控制电路、PWM生成电路等,该芯片还内置了高刷新率的倍频OS-PWM(Optimize-Scrambled Pulse With Modulation Algorithm)算法,专门解决了小点间距显示屏的低灰问题,实验测试和仿真都确认了设计的准确性和可行性,实现了预期的效果.

    显示芯片驱动芯片倍频算法

    低时延CORDIC算法设计与ASIC实现

    何滇
    59-64页
    查看更多>>摘要:传统流水线CORDIC(Coordinate Rotation Digital Computer,CORDIC)算法精度不高,输出延时较大,并且需要依靠剩余角度计算进行旋转方向的判断,占用较大的资源.针对以上问题,本文采用角度二极化重编码方法消除剩余角度计算,通过折叠角度区间将角度映射于区间[0,π/4].结合查找表以及合并迭代技术,减少角度计算的迭代次数和硬件单元,降低输出时延,只需要3个周期就能完成CORDIC计算.使用结果重映射方法完成正弦和余弦的全象限实现.寄存器资源消耗为传统算法的35.37%,输出时延减少85%.基于180nm CMOS工艺,完成CORDIC算法的ASIC实现.正弦和余弦的平均绝对误差分别为2.5472 × 10-6、1.9396× 10-6,相比较于传统CORDIC算法,精度提升一个数量级.

    坐标旋转数字计算机二极化重编码合并迭代CMOSASIC

    一种图像缩放的硬件加速电路

    庄国梁
    65-69页
    查看更多>>摘要:"深度学习算法"已经广泛应用于图像识别领域,深度学习需要做大量的数据传输和卷积运算,对速度和数据带宽的要求极高.本文的项目背景是用现场可编程门阵列(FPGA)方案实现基于多任务卷积神经网络(MTCNN)的人脸识别算法,图像缩放是MTCNN算法中的一个步骤,图像通常缓存在双倍速率同步动态随机存储器(DDR)中,对图像数据的处理受DDR带宽的限制,如果采用普通的算法势必导致图像缩放耗时较长,影响整个深度学习的效率.本文以该项目中DDR的16字节位宽数据传输为例,阐述了采用"位置查表法加特殊桶形移位器"的硬件算法实现数据输入输出的并行流水操作,经过测试本算法的速度是常规算法的6倍左右.

    图像缩放深度学习MTCNN硬件加速

    开发工具SWD仿真环境设计

    王西国
    70-74页
    查看更多>>摘要:针对如何快速仿真复现芯片SWD接口板级调试问题,本文提出了基于UVM技术的开发工具SWD仿真环境设计.通过对仿真环境的结构设计、组件、目录、文件列表、仿真环境搭建进行详细描述,并对仿真环境的使用方法和项目应用进行说明,展现了 SWD仿真环境的功能和设计细节.本仿真环境基于芯片SWD仿真环境进行了二次开发及功能扩展,实现了调试流程功能Task的模块化设计,仿真Case设计简单,有利于SWD板级问题相关调试流程的搭建复现,并提供了丰富的问题定位方法,极大提升SWD接口验证效率.

    SWD接口仿真调试流程仿真环境

    基于神经网络的HEVC帧间预测方法及其硬件研究

    陶乐溪施隆照
    75-81页
    查看更多>>摘要:相比于H.264,高效视频编码标准(HEVC)提出了许多新技术,提高了编码性能,但是也显著提高了编码复杂度.本文从硬件实现的角度出发,对已有的帧间CU划分预测神经网络的结构进行了多方面的优化,使其参数减少了 70%,加法和乘法运算分别减少了 60%、58.2%.并对优化后的卷积神经网络参数采用10位定点数方案进行定点化处理,进一步有效减少硬件资源的开支.对比于HEVC参考软件(HM16.5),优化后网络引起的BD-BR和BD-PSNR平均损失为1.718%和-0.056dB,平均节省35%~52%的编码复杂度,并且定点化处理后引起的性能损失可忽略不计.

    HEVC帧间预测卷积神经网络低复杂度神经网络定点化

    半导体制造设备自动化作业系统设计与实现

    黄浩杨勇周时宇
    82-85,93页
    查看更多>>摘要:本文针对半导体计算机集成制造系统中的设备自动化环节,设计了一套通用的设备自动化系统框架模型,并通过了实际生产验证.该框架模型包含底层通信驱动(SECS/GEM)、SML解析、基于状态机的业务逻辑控制、外围系统接口、异常处理&日志、消息总线、UI终端等模块,通过设备自动化系统的应用可以有效地解决生产线程的误操作问题、数据收集问题、大数据分析问题,通过联动生产制造环节中的各个子系统,显著地提高了生产效率及产品良率.

    半导体制造设备自动化SECS/GEM有限状态机CIM系统

    影响智能卡贯穿性裂纹失效的多种因素分析

    杨利华
    86-88页
    查看更多>>摘要:智能卡芯片的贯穿性裂纹失效模式,可能由单一因素引起,也可能是多种因素共同作用的结果,本文专门就造成智能卡贯穿性裂纹失效的多种因素进行分析.

    多种因素贯穿性裂纹智能卡

    一种基于自主调试器的自动化测试系统的实现

    房露洁赵纪堂林广栋
    89-93页
    查看更多>>摘要:交叉调试是处理器应用开发过程中不可或缺的步骤,它解决了在低配置目标机上无法运行调试器的问题.MCCD是针对"魂芯"系列DSP自主研发的一款调试器,它是进行交叉调试的必备条件.因此,针对MCCD完备高效的交叉测试工作,就成了必须解决的一项难题.本文采用MCCD作为"魂芯"系列DSP调试的基础设施,实现了一种基于自主调试器的自动化测试系统,以脚本驱使的方式脱离人工操作.该系统满足三种目标机、三种源程序语言、集群调试的测试需要,现已应用于多款处理器,实验表明此方法能极大提高测试过程的高效性与准确性.

    交叉调试自动化测试测试系统