首页期刊导航|电子产品可靠性与环境试验
期刊信息/Journal information
电子产品可靠性与环境试验
电子产品可靠性与环境试验

肖虹(执行)

双月刊

1672-5468

kkx@ceprei.com

020-87237043

510610

广州市天河区东莞庄路110号(广州市1501信箱9分箱)

电子产品可靠性与环境试验/Journal Electronic Product Reliability and Environmental Testing
查看更多>>本刊是一份由信息产业部主管、信息产业部电子第五研究所主办、中国电子学会可靠性分会协办的可靠性研究专业刊物,1962年创刊,国内外公开发行。本刊是行业中最有权威性的可靠性学术、技术类科技期刊,发行分布面广,覆盖了电子、航空、航天、造船、兵器、铁路、教育等多个行业与部门,为提高我国军工电子产品可靠性作出了重大的贡献;同时,随着可靠性技术在民用生产中起着越来越重要的作用,本刊也成为越来越多企业和技术人员的良师益友。
正式出版
收录年代

    高压蒸煮试验下镀锡引脚腐蚀行为及机理研究

    张浩李阳王涛肖汉武...
    1-6页
    查看更多>>摘要:引脚金属镀层化学腐蚀是一种典型的封装缺陷,通常在高温、高压、高湿条件下容易出现,并对产品的可靠性和使用寿命造成严重影响.为研究镀锡引脚在高压蒸煮试验下的腐蚀情况,通过金相分析、扫描电镜分析、X射线光电子能谱等分析手段,对高压蒸煮条件下的镀锡引脚化学腐蚀情况进行了研究.结果表明,引脚上化学腐蚀主要是由于锡层-铜层-薄液膜之间的电化学反应造成的,镀锡层表面形貌粗糙会加剧腐蚀的形成.对此,提出了相应的改善措施,对于提高镀层的耐腐蚀性能具有重要的参考意义.

    电化学迁移镀锡引脚腐蚀高压蒸煮试验

    新型薄膜半导体电子迁移速度创纪录

    6页

    缓蚀剂对雷达T/R组件腐蚀行为的影响

    陈勇
    7-14页
    查看更多>>摘要:T/R组件作为雷达系统的重要组成部分,在严酷海洋大气环境的侵蚀作用下,容易发生腐蚀,从而导致雷达系统性能下降,甚至引发故障.基于实测的某型机雷达舱环境数据,编制加速腐蚀试验环境谱,针对喷涂和未喷涂TFHS-20缓蚀剂的T/R组件开展当量加速腐蚀对比试验,并以收发通道芯片的微观腐蚀形貌、铝合金外壳蚀坑深度、T/R组件收发性能和输出功率等为指标参数,表征缓蚀剂对T/R组件腐蚀行为的影响.结果表明,TFHS-20缓蚀剂仅使T/R组件的输出功率降低0.59%~0.78%、接收增益降低0.11 dB~0.21 dB,缓蚀剂对T/R组件收发性能影响非常小.未喷涂缓蚀剂的T/R组件,在加速腐蚀试验的第4周期时,发射通道性能和接收通道功能失效;喷涂缓蚀剂的T/R组件,在加速腐蚀试验的8个周期时,接收通道功能失效.所以,TFHS-20缓蚀剂能够有效地提高T/R组件的使用寿命.

    T/R组件缓蚀剂加速腐蚀试验输出功率发射通道性能接收通道性能

    我国科学家发现新型高温超导体

    14页

    接线端子组件性能研究及失效分析

    杨子洲王群伟张泽陈佳宁...
    15-20页
    查看更多>>摘要:铝铜用接线端子是一种实现电气连接的元件,在线束组件中有着广泛的应用.由于其在使用中会长期经历严酷的环境应力和电应力,因而对其可靠性的要求较高.模拟铝铜用接线端子实际组装状态,对装配铝线和铜线的接线端子组件开展了密封防水性试验、短时耐受流试验和酸性盐雾试验等试验,对密封防水试验的典型失效样品进行了分析,找到了产品失效的原因,并为铝铜用接线端子的应用提出了建议.

    接线端子环境试验失效分析密封防水性试验短时耐受流试验酸性盐雾试验

    新型谐振器能高效生成纠缠量子对

    20页

    电压继电器指示灯闪烁现象的失效机理分析

    罗遐梁营友许洁璇
    21-24页
    查看更多>>摘要:电压继电器作为电力系统中常用的保护器件得到了广泛的应用.根据组件失效分析的方法步骤对电压继电器现场出现的报警灯闪烁失效的原因进行了分析,结合继电器的电路和测试结果,采用无损分析和破坏性分析,定位到了失效的薄膜电容器.再进一步对失效的薄膜电容器进行分析,确定了薄膜电容器内部电极箔腐蚀氧化,造成容量下降,从而引起VCC电源电压波动,最终导致电压继电器报警灯闪烁.建议高湿环境下,电压继电器需采用更好的封装,避免薄膜电容氧化腐蚀.

    电压继电器报警灯闪烁薄膜电容器腐蚀失效机理

    航天地面电源加速寿命试验研究

    万志华张昊东申宏伟王建军...
    25-28页
    查看更多>>摘要:以某航天地面电源为研究对象,开展加速寿命试验研究.首先,介绍了加速寿命试验的特点、目的和优点;然后,阐述了加速试验的方法和流程;最后,对加速寿命试验的结果进行了分析.结果表明,与传统的可靠性试验相比,加速寿命试验可有效降低试验成本、提升试验效率,具有绝对优势.

    航天地面电源加速寿命试验可靠性振动试验高温试验应力设计试验步骤

    一种经济实用的介质振荡器加速储存寿命试验平台

    黄菊芹
    29-32页
    查看更多>>摘要:设计了一种介质振荡器加速储存寿命试验平台,其由温度试验系统、测试系统和数据采集系统等系统组成,可以稳定控制温度,实时监测产品性能,进行监测数据采集,并且得到的试验数据准确度高,可用于加速储存寿命推算.该试验平台经济实用,可为其他电子元器件开展加速储存寿命试验提供参考.

    介质振荡器加速储存寿命试验试验平台测试系统

    基于JMP的高温强度裕量分析应用

    唐继秋彭琦杜旭东
    33-37页
    查看更多>>摘要:对于电子产品高温强度初始值的确定,目前缺乏一种与可靠度指标有效关联的科学分析方法.高温强度初始值是通过高温强度裕量进行确定的,同时它决定着高温应力步进试验中步进到哪个温度点停止步进,也决定着高温应力步降试验中从哪个温度点开始步降.基于裕量可靠的可靠性科学原理,结合应力-强度干涉模型理论,采用蒙特卡洛方法,运用JMP工具开展分析得到高温强度初始值,并以此来指导高温应力步加试验剖面的设计,从而将产品可靠度指标要求落实到产品实际的可靠性试验中,实现可靠性试验剖面设计的科学性与合理性.

    应力-强度干涉模型强度裕量强度阈值强度初始值蒙特卡洛