首页期刊导航|计算机与数字工程
期刊信息/Journal information
计算机与数字工程
中国船舶重工集团公司第七0九研究所
计算机与数字工程

中国船舶重工集团公司第七0九研究所

马中

月刊

1672-9722

jssg@chinajournal.net.cn;jsjyszgc@periodicals.net.cn

027-87534308;87534205

430074

湖北省武汉市74223信箱《计算机与数字工程》编辑部

计算机与数字工程/Journal Computer and Digital EngineeringCSTPCD
查看更多>>《计算机与数字工程》杂志是中国科技核心期刊,目前已被中国期刊网,中国学术期刊(光盘版)全文收录,成为中国学术期刊综合评价数据库来源期刊和科学引文数据库(SCD)来源期刊;同时还被《中文科技期刊数据库》全文收录,并在"万方数据—数字化期刊群"全文上网。 
正式出版
收录年代

    基于MCU主控芯片的热学可靠性与失效分析研究

    王敦闫辰侃张凯虹
    615-618,663页
    查看更多>>摘要:论文基于国产和进口MCU芯片进行热学可靠性评价对比,利用有限元热阻仿真和进行测试验证,系统地研究了MCU芯片的热学特性及热学参数的原理.并基于红外摄像仪Infra-scope和SAM超声设备分析了热阻仿真与测试偏差的主要原因.为MCU芯片热学设计及可靠性测试提供了一定的参考依据.

    芯片设计MCU热学设计可靠性分析

    DC-DC电源模块故障诊断方法

    高会壮陈光陈波李瑞媛...
    619-624页
    查看更多>>摘要:DC-DC电源模块作为电子系统电源供应器,随着在工程设备中应用广泛,其退化情况与故障情况越来越受到关注.针对DC-DC电源模块的很多研究都倾向于把其内部某些器件单独拿出来进行分析,并研究相应的测试方法.论文通过有限元分析得出电源模块内部薄弱环节,并利用PSpice仿真得出了内部器件故障特征的确定方法.通过对输出波形的分析,实现了光电耦合器和MOS管的故障诊断,结果显示光电耦合器对电路抗干扰的调节能力有较大影响.MOS管对输出电压水平影响较大.论文通过电路仿真得到故障数据,利用Matlab对数据进行分析,完成了DC-DC电源模块故障诊断研究.

    DC-DC电源模块有限元仿真薄弱环节电路仿真故障诊断

    DC-DC电源模块通用测试方法设计

    马程阎燕山刘春冉
    625-629页
    查看更多>>摘要:DC-DC电源模块(以下简称电源模块)的批量测试需要设计专用的插座适配器用于提高检测效率.针对典型电源模块引脚分布开展分析,建立引脚分布数据库以及引脚分布相似计算方法,提出电源模块插座适配器通用化、标准化的设计方法.通过建立通用插座适配器区域分布数据库以及电源模块插座适配器适配性分析方法,最终形成了一种电源模块数字化检测管理方法.

    插座适配器通用化标准化数字化检测管理方法

    VDMOS雪崩耐量参数测试技术研究

    乔文霞黄伟
    630-633页
    查看更多>>摘要:目前,很难找到介绍关于VDMOS参数的测试方法的文献,而且所能找到的文献主要介绍的都是VDMOS的基本测试方法,且多是静态参数.而VDMOS的动态参数占全部待测参数的70%之多,不同的参数需要搭建不同的测试电路环境,并且由于动态参数测试较复杂,因此很难实现快速准确的测量,尤其是大功率VDMOS动态参数.只有建立全面的参数测试手段,方能指导器件的研发及使用.论文重点分享了在VDMOS雪崩耐量测量中技术难点和解决思路.论文涉及的工作内容对于目前国内研发VDMOS器件的测试工作将起到一定的指导作用.

    VDMOS动态参数雪崩耐量测试

    融合失效物理和3F方法的电连接器可靠性分析方法研究

    高成王长鑫黄姣英
    634-639页
    查看更多>>摘要:电连接器是一种应用广泛的配套接口元件,其可靠性分析工作的重要性不容忽视.论文基于失效物理和3F方法的特点,研究3F方法与失效物理在元器件可靠性分析流程中的融合策略.从FTA底事件切入,引入失效物理理论,分析电连接器的绝缘体、接触件与壳体结构中的不同组件,复现故障演化逻辑,探究深层的失效机理模型.结合FMECA方法,从固有可靠性与使用可靠性两个角度,将电连接器的失效模式与失效机理对应到器件结构中,判断故障严酷度类别与危害度等级,判定关键件为连接机构组件,重要件为绝缘体组件.结合FRACAS方法,从工艺、材料、使用层面分析,把失效原因及机理映射到其实际生产使用的环节中,对FTA每个底事件,给出具体详尽的纠错建议,最终形成系统的电连接器可靠性分析方法流程.

    失效机理可靠性分析失效物理

    投稿须知

    639页

    基于V93000的模数转换器ADS8364的测试方法研究

    王庆
    640-643,717页
    查看更多>>摘要:论文针对模数转换芯片ADS8364,分析了该ADC芯片的内部结构组成,并基于V93000 SOC自动测试系统进行了编程测试,测试结果能够反应器件特性.测试方法能广泛应用于其他ADC芯片测试.

    模数转换电路测试自动测试系统

    基于线距标准样片的扫描电镜校准方法探讨

    赵琳张晓东李锁印韩志国...
    644-648页
    查看更多>>摘要:为解决微电子行业内扫描电镜的计量需求,结合现有扫描电镜的计量技术文件,研究了基于线距标准样片的扫描电镜校准方法.首先,采用半导体工艺研制了用于计量扫描电镜的线距标准样片,并对样片进行了质量参数考核.其次,分析了现有检定规程的局限性,并研究了扫描电镜放大倍数示值误差、重复性、图像线性失真度等参数的实际校准方法.最后,使用自行研制且经过溯源的线距标准样片对扫描电镜在100K倍下的示值误差进行了校准实验,结果表明:自行研制样片的指标可以达到校准电镜的要求,被校电镜的示值误差在2%的范围以内,校准方法有效.

    扫描电镜半导体工艺标准样片质量参数校准方法

    集成电路老炼中测试设备校准装置研究

    孙崇钧邱萍
    649-653页
    查看更多>>摘要:为贯彻GJB 548B中方法1015的要求,集成电路老炼中测试(Testing During Burn In,TDBI)技术广泛应用于超大规模的FPGA、DSP、CPU及专用芯片等核心集成电路的动态老炼过程中,国内外多种型号的集成电路老炼中测试设备已投入使用,如何进行该类设备系统级整体计量、保证其量值的可溯源性是一项重要任务.论文主要从整体架构设计、信号适配设计、校准软件设计等方面介绍了集成电路老炼中测试设备校准装置的研建过程.

    老炼中测试测试系统校准装置

    考虑功率循环的IGBT可靠性分析

    曾定军崔乃东刘威邓欢...
    654-658页
    查看更多>>摘要:绝缘栅双极晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)在新能源汽车、新能源发电、电能传输等领域中得到了广泛应用,IGBT作为电力电子变换装置中的核心器件,其可靠性直接决定了整个系统的脆弱程度.因此如何计算出IGBT的寿命和可靠性对于研究整个电力电子系统的可靠性起关键性的作用.论文基于IGBT的物理失效模型,分析负载功率波动对IGBT可靠性的影响,提出了IGBT的可靠性分析流程.最后以1kW逆变器为例计算IGBT的B10寿命和可靠性,论文从理论分析、仿真验证了所提出方法的可行性.

    IGBT功率循环寿命可靠性